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    技術支持

    產品名稱

    屏蔽效能測試方法

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    產品描述

    概述

    屏蔽效能是指在電磁場中同一地點沒有屏蔽材料存在時的電磁場強度E1與有屏蔽材料時的電磁場強度E2的比值,它表征了屏蔽體對電磁波的衰減程度。其計算公式按照式(2)進行:

    241.png(2)

    式中:SE屏蔽效能,單位為分貝(dB;

    E1無屏蔽材料時的電磁場強度;

    E2有屏蔽材料時的電磁場強度。                         

    測量條件

    實驗室環境要求:

    a)環境溫度:15~30

    b)環境相對濕度:小于80%

    測量設備和設施

    屏蔽室

    屏蔽室用于9KHz-40GHz屏蔽效能測試,屏蔽室屏蔽效能應至少大于相應屏蔽效能等級6dB。屏蔽室接地良好,接地電阻應小于。屏蔽室應足夠大,尺寸見圖2和圖3(圖3僅用于1GHz~40GHz屏蔽效能測量)。

    242.png

    圖20.6m窗口屏蔽效能測試屏蔽室

    243.png

    圖30.3m窗口屏蔽效能測試屏蔽室

    屏蔽室測試窗為正方形,邊長不小于0.6m,適用頻率范圍為10kHz~40GHz,方形孔中心距屏蔽室地面高度不小于1m,方形孔邊界距側墻不小于0.5m。方形孔邊沿法蘭寬度不小于25mm,法蘭應做導電處理。

    僅用于1GHz~40GHz屏蔽效能測量,測試窗尺寸可為0.3m×0.3m,邊界距側壁不小于0.1m,方形孔邊沿法蘭寬度不小于25mm,法蘭應做導電處理。應保證屏蔽室內天線邊沿距側壁不小于0.1m。也可使用屏蔽暗箱。

    試驗中采用法蘭固定試樣,由于法蘭設計的許多機械因素(公差、剛度、緊固件位置和大?。绊懫帘涡Ч?,試驗前需確認安裝法蘭后的屏蔽室具有足夠的測量動態范圍滿足所需測試的屏蔽效能等級。

    測量設備

    測量設備頻率范圍應滿足測量頻率要求,并滿足動態范圍要求。

    測量天線

    各頻段推薦使用的天線見表2。

    2各頻段使用的天線

    場型

    頻率范圍

    天線類型

    磁場

    10kHz~30MHz

    環天線

    電場

    10kHz~30MHz

    垂直極化單極天線

    電場

    20MHz~200MHz

    雙錐天線

    電場

    100MHz~1000MHz

    偶極天線

    電場

    200MHz~1000MHz

    對數周期天線

    電場

    1GHz~40GHz

    喇叭天線

    測量頻率點要求

    測量時優先選用掃頻法。如使用點頻法測試時,在所測試頻段范圍內每10倍頻程應選擇不小于3個頻率點,并應避開屏蔽室的諧振頻率點。

    屏蔽效能測量

    試樣要求

    用屏蔽室法測量屏蔽效能的試樣應滿足以下要求:

    a)試樣的面積應大于屏蔽室測試窗的尺寸,試樣表面應平整;

    b 如果試樣表面不導電,應將試樣邊沿不導電表面部分除去,露出導電表面,保證試樣安裝時試樣四周邊沿與測試窗有良好的導電連接。

    測量配置

    將試樣放置在屏蔽室測試窗上時,測試窗的法蘭面上應安裝導電襯墊,導電襯墊的屏蔽效能應大于試驗要求屏蔽效能10dB以上。試樣的邊沿用導電膠封貼,將試樣貼在測試窗上,用壓力鉗夾緊試樣或用螺釘固定試樣,保證試樣與屏蔽室測試窗良好的電連接,避免因電接觸不良引入測量偏差。

    發射天線放置在屏蔽室外部,接收天線放置在屏蔽室內部。屏蔽室內盡量不放置與測量無關的金屬物體,在測量過程中,天線位置、儀器、屏蔽室內的其它物體,位置保持不變。10kHz~30MHz頻段內測量磁場屏蔽時環天線采用共軸法布置;10kHz~30MHz頻段內測量電場屏蔽時天線擺放采用垂直放置,天線放置高度要保證天線桿底部與測試窗底部平行;在30MHz~40GHz頻段內,測量天線應垂直極化放置,發射、接收天線對準屏蔽室測試窗的中心;點頻法測試時在200MHz~1000MHz頻段范圍內優先選擇偶極天線。天線距屏蔽材料的距離應符合表3的要求。

    3天線距屏蔽材料的距離

    場型

    頻率范圍

    距離

    磁場

    10kHz~30MHz

    0.3m

    電場

    10kHz~30MHz

    0.3m

    電場

    30MHz~1000MHz

    1.0m

    電場

    1GHz~18GHz

    0.6m

    電場

    18GHz~40GHz

    0.3m

    試驗步驟

    與試樣接觸的金屬表面在每次測試前,需除去表面腐蝕物及其他絕緣材料。

    屏蔽效能測量步驟如下:

    a)按圖2或圖3連接測量設備,測量設備預先預熱半小時;

    b)打開屏蔽室測試窗;

    c)設置發射設備合適的輸出幅度,測量所有測試頻率點無被測試樣時接收設備的指示值;

    d)將被測試樣安裝在測試窗上,并把所有的壓力鉗(或專用螺釘)鎖緊;

    e)保持發射接收天線位置不變,發射設備各頻率點輸出幅度與c)時相同,記錄所有測試頻率點有被測試樣時接收設備的指示值;

    f)按式(2)計算各頻率點被測試樣的屏蔽效能。


     

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